基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 |
| 英文名称： | General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 微电路综合 |
| ICS分类： | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1992-01-02 |
| 实施日期： | 1993-08-01 |
| 首发日期： | 1992-12-17 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 上海件五厂 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-08-13 |
| 页数： | 平装16开， 页数：19， 字数：34千字 |
| 书号： | 155066.1-9730 |
适用范围
本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关电参数测试的基本原理。模拟开关与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学